EDX sorozatú x-fluorescáns spektrométerek，Energia szétválasztásXSugarfluorescens spektrometerAlkalmazásRoHS & WEEEUtasítás elemzéseKülönböző fémfilm vastagságmérés, ipari bevonatvastagságmérés, halogén irányelvekClElementi elemzésÁsványok, nyersanyagok összetevőelemzése, mágneses mágneses médiumok és félvezetők, valamint különböző kombinációkArany- és nemesfémek elemzése.
EDX sorozatú x-fluorescáns spektrométerekFő jellemzők
●Elemek elemzéseS-U

●Elemek koncentrációs tartománya 2ppm—100%
●A gép folyamatos stabilitása8óra mérésRSD<0.25%
● ROHS/WEEEÉrzékelési idő100-120másodperc

●Elektromos hűtés importja az Egyesült ÁllamokbanSi（Pin）Detektorok

●Elektromos hűtésSi（Pin）detektor kristály terület15mm2Felbontás<155eV
●Teljes mértékben digitális impulzus-feldolgozó technológia

●Kiváló csúcs-vissza arány, rendkívül magas nyomaelemzési érzékenység

● 50KV,50WÖnvédelemX-Sugárcső

●Kompozit szűrő intelligens kapcsolótechnológia

Jellemzők:

☆Pontos elemzés a klórelemekben és festékekben lévő ólomban

☆IntegrációFPtörvény,AlphaA tényezői módszer, a tapasztalati tényezői módszer

☆Biztonsági csatlakozó berendezés, puha és kemény sugárzási tervezés

☆Egyszerű kezelés, egy kattintással

☆Intelligens szoftver automatikus paraméterbeállítás és szűrők kiválasztása

☆XA sugárcsövek túlhőmérsékleti védelme

☆Elektronikus hűtés folyékony nitrogén és egyéb fogyasztási anyagok nélkül

Műszaki specifikációk